Оцінка параметрів надійності компонентів електроніки при відбракуванні за допомогою кластеризації з вейвлет-перетворенням. ICT [інтернет]. 05, Листопад 2025 [цит. за 20, Листопад 2025];2:23–27. доступний у: https://ict.op.edu.ua/index.php/journal/article/view/7