Оцінка параметрів надійності компонентів електроніки при відбракуванні за допомогою кластеризації з вейвлет-перетворенням

Автор(и)

  • Щербакова Галина Юріївна Національний університет «Одеська політехніка», пр. Шевченка, 1. Одеса, 65044, Україна Автор
  • Кошутіна Дар’я Валеріївна Національний університет «Одеська політехніка», пр. Шевченка, 1. Одеса, 65044, Україна Автор
  • Сахно Кирил Олександрович Національний університет «Одеська політехніка», пр. Шевченка, 1. Одеса, 65044, Україна Автор

DOI:

https://doi.org/10.15276/ict.02.2025.02

Ключові слова:

кластеризація вейвлет-перетворення, оптимізація, аналіз надійності, інтенсивність відмов, дифузійний розподіл

Анотація

Комплектація критично важливих складних систем електроніки якісною компонентною базою – необхідна умова підвищення їхньої надійності. Тому однією з ключових задач є визначення параметрів надійності при відборі компонентів для апаратури відповідального призначення. У цьому дослідженні пропонується удосконалення процедури визначення параметрів надійності шляхом використання методу кластеризації на основі вейвлет функцій, який дозволяє підвищити швидкодію процедури оцінки параметрів надійності. Перевагою підходу є підвищення швидкодії за рахунок визначення обмежень на етапі обробки з допомогою вейвлета Хаара в області пошуку екстремуму. Моделювання підтвердило ефективність запропонованого підходу для визначення параметрів надійності, що і дозволяє рекомендувати його для використання при відборі компонентів для апаратури особливо важливого призначення.



Завантажити

Дані для завантаження поки недоступні.

Біографії авторів

  • автор Щербакова Галина Юріївна, афіліація Національний університет «Одеська політехніка», пр. Шевченка, 1. Одеса, 65044, Україна

    Д-р техніч. наук, професор каф. Інформаційних систем

    Scopus Author ID: 27868185600

  • автор Кошутіна Дар’я Валеріївна, афіліація Національний університет «Одеська політехніка», пр. Шевченка, 1. Одеса, 65044, Україна

    PhD студент каф. Інформаційних систем

    Scopus Author ID: 58289385400

  • автор Сахно Кирил Олександрович, афіліація Національний університет «Одеська політехніка», пр. Шевченка, 1. Одеса, 65044, Україна

    PhD студент каф. Інформаційних систем

Завантаження

Опубліковано

2025-11-05

Як цитувати

Оцінка параметрів надійності компонентів електроніки при відбракуванні за допомогою кластеризації з вейвлет-перетворенням. (2025). Інформатика. Культура. Техніка, 2, 23–27. https://doi.org/10.15276/ict.02.2025.02

Статті цього автора (цих авторів), які найбільше читають