«Оцінка параметрів надійності компонентів електроніки при відбракуванні за допомогою кластеризації з вейвлет-перетворенням». Інформатика. Культура. Техніка 2 (Листопад 5, 2025): 23–27. дата звернення Листопад 20, 2025. https://ict.op.edu.ua/index.php/journal/article/view/7.