«Оцінка параметрів надійності компонентів електроніки при відбракуванні за допомогою кластеризації з вейвлет-перетворенням». Інформатика. Культура. Техніка, вип. 2, Листопад 2025, с. 23–27, https://doi.org/10.15276/ict.02.2025.02.